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金相质控·质胜未来
显微观察及失效分析-杭州站
技术论坛圆满落幕
10月31日，国检检测与徕卡显微镜携手于杭州成功举办“金相质控 质胜未来”技术论坛。本次论坛聚焦“显微观察及失效分析”前沿领域，汇聚材料、制造与科研领域的专家与技术精英，共同打造了一场高水平、深层次的技术交流盛会。
主办方领导致词
国检检测的副总经理王慧先生
徕卡工业部东南大区销售经理白雪林先生
特邀嘉宾
本次论坛荣幸邀请到两位技术领域的资深专家，呈现了一场精彩的技术盛宴。
浙江大学博士生导师、理学博士、浙江省电镜微结构学会理事长李吉学教授，作了题为《金属材料的显微结构原位测试技术》的专题报告。他系统阐释了该技术对材料微观结构的动态观测能力，为揭示失效机理提供了关键支撑，推动了材料研究从静态表征到动态分析的跨越。
英华检测（上海）有限公司技术总监、国内射线无损检测资深专家苏宇杰先生，则围绕《高分辨CT在材料微观结构和缺陷分析中的应用》展开分享。他生动展示了高分辨CT技术如何无损透视材料内部三维结构、精准定位微观缺陷，为失效分析提供了全新的视角与精准利器。
技术专家
随后，5位技术专家相继登台，分享了各自领域的专业见解。
国检检测总工程师陈琦峰
《实验室认可解读》
徕卡显微镜的高级工程师姚永朋
《光学显微镜在金属检测中的应用》
国检检测质量部部长朱佳萍
《能力验证——实验室能力与产品质量的“试金石”》
国检检测金相与失效分析中心副部长祁永东
《金相技术在失效分析中的应用》
国检检测试样加工中心主任崔喆珉
《试样加工质量控制》
茶歇时的轻松氛围，成为技术交流的“催化剂”。或在徕卡体验区实操尖端设备，或在国检答疑区探讨疑难案例，大家在分享经验与思维碰撞中，实现了难得的互学互鉴。
本次论坛成功链接了技术、设备与人才，成为推动行业创新与合作的重要平台。展望未来，我们期待以更精准、更高效的检测分析方案为核心，持续开展系列技术交流活动，深入分享前沿技术应用经验，共同推动行业质量水平提升，为制造业高质量发展持续赋能。
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公司简介
国检检测在线（CCT）
国家检测中心
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