近日来，我司MStarter ABS 深紫外-近红外显微吸收光谱测试系统在二维半导体材料的研究中取得了系列应用成果。
MStarter ABS 深紫外-近红外显微吸收光谱测试系统适用于250-1700nm （部分样品可拓展至220nm）范围内薄膜样品的吸收光谱测试，测试范围最小仅5 微米左右。显微镜采用氘灯-卤素灯透射光源，并且全光路无色散，极大程度的优化了紫外和红外波段的透射率，并且使得所有波段的测试区域没有明显变化。氘灯模块采用了自由光路设计，增强了光源强度，单条光谱测试时间可缩短至5 毫秒左右，因此可以快速进行光谱多次平均，使得测量数据更为准确。
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MStarter ABS：适用于光电子产品的具有高环境稳定性的蜂窝RhI3薄片
近年来，新型的二维层状过渡金属卤化物（MX3）由于其特殊的结构和物理性能引起了科研人员极大的兴趣。
华中科技大学翟天佑团队与中国科学院上海硅酸盐研究所黄富强团队，成功地从大块晶体中剥离出原子层厚度的RhI3薄片，并对其光电性质进行了系统的研究。研究发现：RhI3表现出优越的空气和热稳定性，带隙（与厚度相关的）从1.1eV（18L）到1.4eV（2L）。相关工作以题目为“Honeycomb RhI3 Flakes with High Environmental Stability for Optoelectronics”发表于国际材料领域顶尖期刊ADVANCED MATERIALS。
典型RhI3薄片的AFM图和TEM图
该工作针对不同厚度的RhI3 薄片以及不同温度下RhI3 薄片进行了拉曼测试，从图中可以看出，厚度影响拉曼峰值的强弱，随着厚度增加，拉曼特征峰出现轻微红移现象。而从温度稳定性拉曼图谱中可以看出，随温度升高，特征峰的位置不发生任何变化，表明了其良好的温度稳定性。
此外，作者针对不同厚度的RhI3 薄片进行了透射吸收测试，图a是不同厚度下RhI3 薄片的吸收谱，图b为RhI3 薄片光学带隙及厚度关系图。该测试利用我司MStarter ABS测试系统，兼容透射或反射式测试方法，采用氘灯-卤素灯透射光源，数据采集便利。
MStarter ABS 光斑尺寸仅有5微米（图中6个白色光圈为指示光圈，中心处即为测试光斑区域），可以方便的测量微小样品指定区域的吸收光谱。
光学吸收光谱法是一种提取二维材料光学带隙的实用方法。从图a中可以明显看出，通过厚度的减小，吸收强度逐渐减弱，吸收边出现轻微的蓝移，说明由于量子尺寸效应，光学带隙增大了。图b显示了光学带隙与RhI3薄片厚度的对比。可以清楚地看到，当RhI3薄片的厚度下降到双层时，其光带隙在1.1 ~ 1.4 eV之间可调，这使得RhI3薄片在光电器件上很有前景。
总的来说：该团队在二维材料中引入了一种新的层状RhI3晶体。拉曼光谱表明其有很好的空气和温度稳定性；微区吸收光谱显示RhI3具有1.1-1.4eV的可调谐光学带隙。制备的RhI3光电晶体管也具有优异的光响应性能，室温下，在980nm的光照下，具有11.5 A W-1的响应率以及2*1010Jones的高特异检出率。
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参考文献下载地址：
https://www.metatest.cn/productinfo/1104136.html
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