【案例分享】我司多套光谱/光电类设备于近期顺利交付！欢迎新老客户咨询！

① Scanpro Advance综合光电扫描测试系统：

可在一套系统中实现532nm拉曼光谱测试，以及联用客户提供的电学测量模块，实现常规电学测试和紫外光电流测试。系统高度集成化，可升级二次谐波光谱、荧光光谱、荧光寿命等测试功能，搭载高精度压电扫描测试系统，偏振光谱/光电测试模块，可实现高精度光谱/光电流mapping测试，变偏振角度光谱/光电流测试。

二维SnP₂Se₆的热导率测量。(A)热导率测量装置示意图。插图为测试样品的OM图像和截面视图。(B)样品在SiN_x基底上受50 μW激光照射时的温度分布模拟。插图为温度场的俯视图。蓝色实线矩形代表SnP₂Se₆，黄色虚线表示孔洞区域。(C)温度依赖性拉曼光谱，其中红色虚线标示了约156cm^-1处峰的移动。(D)拟合的拉曼峰频率偏移随温度的变化关系。(E)功率依赖性拉曼光谱，其中紫色虚线标示了156cm^-1处峰位置的移动。(F)拟合的拉曼峰频率偏移随激光功率的变化关系。

基于双栅极SnP₂Se₆光热电(PTE)探测器的通信波段探测性能。(A,B)器件结构示意图与光学显微图像。(C)在栅压组合V_LG=V_RG=0V、V_LG=0V/V_RG=1V、V_LG=1V/V_RG=0V条件下的电流-电压曲线，入射激光功率密度固定为16.3W cm^-2。(D)光电流随栅极电压变化的映射图。插图显示虚线标记截面的光电流线性分布图。(E)激光照射下器件的响应速度。(F)不同激光功率下器件的响应率与探测率。

② MStarter 200 微区光电流扫描测试系统：

一套系统中实现高低温环境下的光谱+光电原位测试！高精度光电流扫描成像机构可进行传感器图案化成像测试，并结合光强等变量输出多种mapping结果。共聚焦光路设计，可得微区光谱测试功能，包括荧光光谱和mapping、拉曼光谱和mapping测试和电致发光光谱测试。除此之外，整套系统定制拥有荧光成像功能和灵活切换的样品台，支持高低温环境下的原位光谱-光电测试，满足极端条件下的材料性能评估需求。

③ MStarter 200 微区光电流扫描测试系统：

系统可实现常规电学及光电测试，I-V测试，偏振光电测试。高精度光电流扫描成像机构可进行传感器图案化成像测试，并结合光强/偏振角度等变量输出多种mapping结果，探究器件的光响应区域、辅助分析器件失效原因等。另外搭配了我司的模拟扫描装置，可结合该系统使用得到图案化扫描数据。

④MStarter 100 显微光谱扫描测试系统：

该系统搭载360nm激光器，可实现381-900nm紫外荧光光谱测试；加装高精度压电模块，可测微区紫外PL mapping。拓展性高，支持后期扩展荧光寿命、高低温测试环境等测试需求。