微纳材料与器件研究的首要难点，就是在茫茫样品海洋中找到具有研究价值的目标样品，通常的研究手段就是金相显微镜、AFM或者STM等等。其中STM优点是分辨率高，能够反馈更多微观形貌信息，但缺点是样品制备喷金或者电子束轰击都会对样品产生损伤；AFM优点是操作便捷，可结合形貌、磁性、电势等多种表面观察，但缺点是探针耗材易损且扫描速度较慢。综合而言，还是显微镜无损观察最适合样品的初步表征和快速筛选！
成像工作原理[1]：
------------------成 像 观 察----------------
暗场观察的工作原理：
暗场应用实例：
图1 Ag纳米线硅片衬底。利用暗场显微镜，可清晰分辨出硅片衬底上的极细纳米线
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荧光观察的工作原理：
荧光观察是利用一定波长的光(通常是紫外光、蓝紫光)激发显微镜下标本内的荧光物质，使之发射荧光。E3-iEL采用大功率蓝光LED（450nm/385nm），蓝光通过分束器反射，通过物镜聚焦在样品表面。样品发射的荧光和反射光通过滤光片组后，反射光被滤光片组阻挡，荧光信号进入相机成像。相机采用的是荧光成像制冷显微相机，搭载830万像素高灵敏度CMOS传感器，可做到长时间曝光，曝光时间10ms—5min，拥有TE冷却结构，工作温度最低-10度。
荧光应用实例：
图6. CdTe碲化镉太阳能电池。（a）标准刻线方案[2]；（b）刻线的扫描电镜[2]；（c）5X物镜下的明场照片；（d）5X物镜下的荧光照片。
利用荧光显微功能可清晰观察分辨出碲化镉电池激光刻线是否均匀、有无损伤，P1处可观察到激发出荧光的CdS/CdTe，P2处对应于金属膜层，P3处对应底层EVA透明胶
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偏光观察的工作原理：
偏光显微观察可以用于分辨具有双折射性质的样品，即光线通过某一物质时，光的速度、折射率、吸收性和偏振、振幅等因照射方向而有不同，这种物质在光学上则具有“各向异性”，又称双折射体，如晶体、纤维等。
E3-iFL自带两个偏振镜，一个装在光源与物镜之间的偏振片为“起偏器”，自然光通过偏振片后成为线偏振光，线偏振光的振动方向与偏振片的偏振化方向一致。另一个装在物镜与目镜之间的偏振片为“检偏器”，用来检验某一束光是否偏振光，偏振光通过检偏器后，在转动检偏器的过程中，透射光强度发生变化。
偏光应用实例：
图8. 矿物切片在合适检偏角度下的图片，呈现出绚丽的颜色
-------------------样品快速筛查------------------
通过E3-iFL所集成的明暗场、荧光功能，您可在一台设备上快速完成样品的初步筛查工作，省时高效地挑选出合适的样品。
应用实例：
产品参数：
| 物镜 |
平场无限远半复消色差明暗场金相物镜（5X、10X、20X、50X，100X） |
| 照明系统 |
大功率5W白光LED，大功率5W 450nm蓝光LED，可插拔偏光显微成像用起偏器和检偏器 |
| 荧光滤光片 |
450nm荧光滤光片组，光谱收集范围500nm -1000 nm； |
| 落射照明系统 |
采用柯拉照明系统，带视场光阑、孔径光阑；视场与孔径光阑采用拉杆装置，中心可调, 能灵活调节照明范围的大小 |
| 手动载物台 |
双层机械移动平台，低手位X、Y方向同轴调节；平台面积175×145mm，移动范围：76mm×42mm |
| 相机 |
荧光成像制冷显微相机，830万像高灵敏度CMOS传感器，曝光时间10ms—5min，TE冷却结构，工作温度最低-10度 |
| 选配项目 |
① 385nm荧光成像：385nmLED照明光源，385nm荧光滤光片组，光谱范围425nm-1100nm； ② Olympus 100倍明暗场半复消色差物镜 （WD：1mm，NA：0.9） |
*具体参数以报价文件为准
[1]参考文献：Molecules. 2012; 17(4):4047-4132
[2]摘自《薄膜化合物太阳能电池》
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