CIOE 2023圆满落幕
第24届中国国际光电博览会

9月8日,历时3天的第24届中国国际光电博览会(CIOE2023)在深圳国际会展中心顺利闭幕。至汉装备在本次展会展示光芯片外观检测AOI系统(两面、四面)产品,吸引着众多行业内观众驻足参观、交流指导。
此次参展,至汉装备的目的是拓宽视野、展示技术、促进交流与合作。公司充分利用此机会,与客户及同行进行深入交流,进一步提升了品牌知名度和影响力。
至汉工作人员与客户和观众进行了深入交流和洽谈,进一步加深了与产学研各界伙伴的沟通与互动,现场气氛十分热烈。

光芯片外观检测AOI系统(两面、四面)
专用于检测划裂前、后光芯片表面的划伤、压伤、污染、缺损、崩边等缺陷。
专用于检测COC等光器件产品多个面的划伤、压伤、污染、缺损、崩边,以及金线等缺陷。
本次展会所展示的产品都受到了广大客户的一致好评。虽然展会已经结束,但这并不意味着我们的交流终止。新的号角已经吹响,让我们期待下一次相遇。在此,至汉装备向每一位能够到场咨询了解的客户朋友表示衷心感谢!对于因故未能亲临现场的朋友们,我们也欢迎您在线上或通过其他方式与我们保持联系。


