Keysight Design Forum 作为 EDA 行业极具影响力的年度盛会，将于 11月18日 在 上海张江科学城希尔顿酒店 盛大举行。
这是一场汇聚顶尖专家与工程师的 EDA 技术盛会。AI创新、射频设计、高速互连、通信系统、功率优化，多物理场仿真……无论你关注哪个方向，都能在这里找到灵感与答案。
让我们在 KDF 2025，一起见证电子设计的未来！现场注册现已开放，诚邀您莅临参会！
TIP
智能建模与功耗优化专题
聚焦从电源设计到器件建模与数据协作的最新突破。首先，揭秘开关电源（SMPS）设计的专业优化路径，探索如何在精度与效率之间实现完美平衡。
其次，介绍 Keysight DDM（SOS） 软件如何在 EDA 环境中保障数据安全与版本一致性，实现跨地域的高效协作。
接下来揭示 AI 驱动的智能建模新趋势，通过 ML Optimizer 在 GaN、IGBT、MOSFET 等器件建模中的应用，显著提升精度与自动化水平。
此外，还将展示利用 A-LFNA 系统（E4727B） 进行随机电报噪声（RTN）测试与分析的前沿方法，助力工程师深入理解器件噪声机制，提升可靠性评估能力。
从器件建模到功耗优化，从跨团队协作与全流程仿真，在这里全面提升芯片设计效率与能效，推动智能化设计实践落地。
详细议题如下：
01
解锁开关电源（SMPS）设计的专业度与Unlock Your SMPS Design Expertise and Precision精确度
开关电源（SMPS）是现代电子系统的核心，其设计正面临高效率、小体积与快速上市的挑战。随着 SiC、GaN 等宽禁带器件的应用，效率提升的同时也带来寄生效应、电流不均、热耦合与 EMI 等难题。本议题将介绍如何利用 Keysight ADS 与 PEPro 实现从原理图到 PCB 后仿真的完整流程，精准捕捉寄生参数、优化电流分布并提升系统可靠性，以仿真驱动设计，减少原型迭代，加速产品上市。
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02
跨地域协作与数据安全：SOS软件助力EDA环境下设计效率的提升
Boosting EDA Design Efficiency with SOS Software: Cross-Regional Collaboration and Data Security
在集成电路研发过程中，保证数据安全与准确性的同时实现跨地域高效协作，是提升设计效率的关键。Keysight DDM软件通过与主流 EDA 工具的无缝集成，将设计数据与研发流程统一纳入管理体系，实现集中化存储、严格的版本控制及权限管理。工程师无需改变原有工作习惯，即可在熟悉的 EDA 环境中工作，确保设计成果的可追溯性与一致性。
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03
器件建模新趋势: AI 驱动的智能建模解决方案
What's new in device modeling: AI-powered intelligent modeling solutions
近年来，人工智能（AI）和机器学习（ML）在推动器件建模方面展现出了巨大潜力。本次演讲将通过介绍多个基于不同器件模型的案例，如 GaN HEMT、IGBT、MOSFET 和 pHEMT ，来展示Keysight ML Optimizer在精度、收敛速度和流程自动化方面的显著提升。
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04
使用A-LFNA系统(E4727B)进行随机电报噪声的测试与分析
Testing and Analysis of Random Telegraph Noise Using E4727B
随机电报噪声 (RTN) 是由半导体器件中的栅氧化层缺陷捕获和释放载流子导致的一种离散的、类似于电报信号的噪声。RTN 会导致电参数（阈值电压和电流）的随机波动。影响随着器件尺寸的缩小越发明显。E4727B是专门用于测试1/f噪声和随机电报噪声的系统。此专题详细介绍E4727B用于RTN的测试与分析的方法，使用者通过测试数据了解器件的噪声性能。
05
深入解析功率器件建模挑战：从传统到智能化方法
In-depth Analysis of Power Device Modeling Challenges: From Traditional to AI-driven Approaches
随着 SiC、GaN 等宽禁带功率半导体的普及，电力电子系统正迈向高频、高效与高集成化。然而，高 di/dt 引发的寄生效应、热耦合及模型精度不足成为设计难题。本研讨会将深入解析功率器件建模难题，介绍通过 Keysight 测试—建模—仿真一体化方案，基于IC-CAP平台与AI驱动的模型优化方法，工程师可以快速获得器件模型，并在设计初期预测系统行为，减少原型迭代，加速创新。让“模拟优先”成为应对功率器件建模挑战的核心策略。
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奖品图片参考
最终解释权归是德科技（中国）有限公司所有
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