使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
参数查看，快速清晰
胆发现从未如此容易。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界首创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。
特点
内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语
使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
测量、 切换、 重复
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
检定、 自定义、 最大化
简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。
特点
NBTI/PBTI 测试
随机电报噪声
非易失内存设备
稳压器应用测试
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试
型号
型号 |
说明 |
4200A-SCS-PK1 |
210V/100mA，0.1 fA 分辨率
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4200A-SCS-PK2 |
210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
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4200A-SCS-PK3 |
210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
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4200-BTI-A |
用于使用尖端 CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括：
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模块
模块 |
说明 |
4200-BTI-A |
超快速 BTI 包 |
4200-PA |
远程预放大器模块 |
4200-SMU |
中功率源测量单位 |
4200A-CVIV |
I-V/C-V 多开关模块 |
4210-CVU |
电容-电压单位 |
4210-SMU |
大功率源测量单元 |
4220-PGU |
高电压脉冲发生器单元 |
4225-PMU |
超快速脉冲测量单位 |
4225-RPM |
远程预放大器/开关模块 |
4200-SMU-R |
可现场更换的 MPSMU |
4210-SMU-R |
可现场更换的 HPSMU |