薄膜变温电阻测试仪（TRT）
Variable-temperatureResistance Teste
薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率，可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。
产品特点
采用高精度恒流源与电压表，确保测试的稳定性和精确性。
采用自适应PID温控。
自动检测样品接触特征曲线。
在真空或气氛（惰性气体）环境下测量电阻随温度变化。
采用流行的USB2.0接口与计算机相连，数据采集迅速准确。
用户界面直观友好，操作方便，可实时动态显示采集数据及状态。
应用
金属、半导体、导电高分子薄膜等材料电学性能随温度的变化
表征样品的均匀度
测量样品的相变温度点
技术参数
型号
TRT-1000
温度范围
RT~1000℃（自动控温，可连续采集）
电阻测量范围
1μΩ-100MΩ,准确度:±0.1%FS
温度测量精度
±0.5℃
恒流源
0.05μA~1A，准确度：±1%FS（FS为满量程值）
电压
1μV~300V，准确度：±1%FS（FS为满量程值）
测试的真空度
0.1~50Pa
样品尺寸
长 x 宽:(5~20)x(5~20)，单位mm,厚度:10nm-3mm
测试软件
界面友好，操作方便；可实时显示采集数据、测试状态已经测试结果
主机尺寸
500 x 450 x 580，单位mm
应用实例
电子科技大学ZrB2样品测试结果
大连理工CuNiFe样品测试结果
广州雷子克Bi2Te3样品测试结果
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