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我国科学家成功实现主动光学强度干涉合成孔径成像
2025-05-10 18:03 星期六
中国科学技术大学潘建伟、张强、徐飞虎等研究人员与美国麻省理工学院及中国科学院西安光学精密机械研究所合作,首次提出并实验验证了一种新的主动光学强度干涉技术合成孔径方法,成功实现了对1.36公里外毫米级目标的高分辨率成像。该技术使成像分辨率相比传统单台望远镜提升了约14倍。相关研究成果已于5月9日发表在国际学术期刊《物理评论快报》上。
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